使用LabVIEW和NIPXI测试ASIC测试测量免费猫

使用LabVIEW和NI PXI 测试ASIC - 测试测量 - 电子工程网

我们选择美国国家仪器公司的设备，是因为它们具有覆盖广泛、并易于使用的驱动，通过LabVIEW API，可以在高级的应用程序中很容易地使用它们。在测试过程中，我们需要为8个数字输入线设置延迟（相对于输出时钟信号），使用LabVIEW 和 PXI-6562，只花费5分钟便实现了该功能。

在与ASIC建立通信后，我们对数字比特流进行分析，这对于观察和调试专用的数字波形数据非常有用。我们从 LabVIEW函数选板中选择了一些函数来适当地剪切、移动以及转换比特流数据，并将其转化为能够代表X射线强度的表示方式。通过这些数据，我们可以计算 ASIC参数，如增益、噪声，以及通道或像素间的直流电平分布。我们还使用了许多数学函数，如差分、拟合（高斯函数和专用误差修正函数），以及对数组和其它基本数据类型的各种操作。LabVIEW提供了所有这些函数，所以我们可以快速地实现这些应用。

由于收集了大量的数据需要处理，所以设备的性能至关重要。例如， PX90芯片包含了一个32x40的阵列（共1,280像素），用于对射入的X-射线进行计数，该芯片需要对一个模拟参数（阈值扫描）进行测量，从而对所有的像素数据进行拟合。而如果想计算出芯片的校准参数，则需要将这一测试过程重复256次。这意味着我们需要重复30万次以上的数据拟合过程，而这一过程所耗的时间又是非常关键。使用LabVIEW2010，程序员可以配置for循环以利用多核处理器的性能。借助这一特性，我们在一个8核处理器上将计算速度提高了七倍以上。

结论

我们构建了一个能够可靠快速地测试产品的虚拟仪器。它采用了诸多种类的模块化仪器，因此我们无需使用其它设备就可以完成必要的测试。我们的虚拟仪器构建在LabVIEW所编写的专用软件的基础上，因此用户可以设置适当的测试配置、ASIC参数，并读取数据，然后在图形化用户界面上显示分析后的结果。正是由于基于NI产品构建的这个系统方案，使得我们可以节省一年的测试时间。例如，日本Rigaku公司在高速、位置灵敏的探测器系统中采用了我们的一个产品[2]。随着我们新的虚拟仪器的出现，用在测试设备中ASIC所花费的时间缩减至不到三个月。

参考文献

[1] P. Grybo , P. Maj, L. Ramello, K. wientek,: Measurements of Matching and High Rate Performance of Multichannel ASIC for Digital X-Ray Imaging Systems, IEEE Transaction on Nuclear Science, vol. 54, August 2007, pp. 1207-1215

[2] R. SZCZYGIE , P. GRYBO , P. MAJ, A. Tsukiyama, K. Matsushita, T. Taguchi: RG64 – high count rate low noise multichannel ASIC with energy window selection and continuous readout mode, IEEE Transactions on Nuclear Science ; ISSN 0018-9499. — 2009 vol. 56 no. 2 s. 487–495

[3] M. Kachel, P. Grybos, R. Szczygiel Low Noise 64-Channel ASIC for Si, GaAs and CdTe Strip Detectors” NSS-MIC 2009 Conference.

[4] R. Szczygiel, P. Grybos, P. Maj, A Prototype Pixel Readout IC for High Count Rate X-ray Imaging Systems in 90 nm CMOS Technology , IEEE Trans.Nucl. Sci., vol. 57, no. 3, 2010, p. 1664-1674.

作者信息:

Piotr Maj

AGH University of Science and Technology

al. Mickiewicza 30

Kraków 30-059

双修小说

服务员旗袍

黑丝旗袍

白灵菇种植